煙臺(tái)機(jī)器視覺(jué)解決方案—合作咨詢(xún)：13695448998 胡經(jīng)理

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　　歡迎電話咨詢(xún)獲取機(jī)器視覺(jué)解決方案，并有機(jī)器視覺(jué)專(zhuān)家指導(dǎo)開(kāi)展機(jī)器視覺(jué)系統(tǒng)導(dǎo)入工作

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　　機(jī)器視覺(jué)系統(tǒng)是多領(lǐng)域技術(shù)的結(jié)合，涉及機(jī)械、電子、光學(xué)控制系統(tǒng)、自動(dòng)控制系統(tǒng)、圖像處理和模式識(shí)別、人工智能等諸多領(lǐng)域，公司經(jīng)過(guò)多年的技術(shù)沉淀，自主掌握并融合了上述多個(gè)方面的關(guān)鍵技術(shù)并在大量的工程應(yīng)用中不斷積累和優(yōu)化，使得公司在整體系統(tǒng)上具備了領(lǐng)先的技術(shù)優(yōu)勢(shì)。

　　筆記本、手機(jī)等電子元件微型化和復(fù)雜化的趨勢(shì)對(duì)工業(yè)質(zhì)檢的精度、準(zhǔn)確度和效率提出了更高要求，而國(guó)內(nèi)逐漸攀升的人工成本也加速了“機(jī)器替人”的趨勢(shì)。3C產(chǎn)品外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)檢測(cè)內(nèi)部外部等多種瑕疵，包括主要零件有無(wú)，螺絲有無(wú)，玻璃平板劃痕、尺寸大小測(cè)量、色差等。

　　　一、產(chǎn)品功能

　　軟件數(shù)據(jù)庫(kù)管理

　　自動(dòng)貼標(biāo)

　　報(bào)表打印

　　歷史記錄

　　異常報(bào)警

　　瑕疵缺陷識(shí)別

　　二、產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

　　1.缺陷識(shí)別:可快速識(shí)別瑕疵缺陷并異常報(bào)警；

　　2.統(tǒng)計(jì)分析:實(shí)時(shí)統(tǒng)計(jì)檢測(cè)數(shù)據(jù)，精確記錄當(dāng)前生產(chǎn)情況

　　3.自動(dòng)貼標(biāo):自動(dòng)高效檢測(cè)外觀缺陷及反光標(biāo)簽的色差，并做標(biāo)記

　　4.瑕疵檢測(cè):檢測(cè)多種瑕疵，包括過(guò)噴，卡斷，拉絲，缺墨，暗痕，白點(diǎn)，顆粒，毛屑，三傷，字符不良，縮水等瑕疵

　　5.智能管理:能管理系統(tǒng)平臺(tái),可同時(shí)堅(jiān)持多臺(tái)，系統(tǒng)記錄瑕疵

　　6.檢測(cè)精度:據(jù)客戶的檢測(cè)需求,針對(duì)工件的尺寸大小及檢測(cè)精度需求可靈活的搭配不同型號(hào)的機(jī)器和方案

　　三、產(chǎn)品類(lèi)型

　　手機(jī)外殼缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

　　手機(jī)外殼缺陷檢測(cè)系統(tǒng)可針對(duì)手機(jī)外殼出現(xiàn)的劃傷、缺口、壓痕、凹凸痕、電鍍掉漆、鋸齒狀、點(diǎn)狀異物、臟污等瑕疵進(jìn)行全方面的檢測(cè)。

　　　筆記本缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

　　筆記本缺陷檢測(cè)系統(tǒng)與客戶產(chǎn)品對(duì)接，全自動(dòng)檢測(cè)筆記本內(nèi)部多種瑕疵，包括主要零件有無(wú)，螺絲有無(wú)，泡棉有無(wú)及偏移，排線插頭高度，理線方式，天線接口正負(fù)識(shí)別。

　　　AOI檢測(cè)設(shè)備

　　AOI檢測(cè)設(shè)備主要用在LCD生產(chǎn)線檢測(cè)面板產(chǎn)品，PCB市場(chǎng)、FPD行業(yè)等，檢測(cè)劃痕、凹凸缺陷、邊緣崩缺、液晶破損、裂紋、氣泡、臟污、針孔等缺陷。

　　　液晶面板缺陷檢測(cè)設(shè)備

　　四、應(yīng)用場(chǎng)景

　　3C產(chǎn)品外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng)可應(yīng)用于手機(jī)外殼、手機(jī)玻璃蓋、尺寸檢測(cè)、手機(jī)輔料、鼠標(biāo)外觀、筆記本腳墊、鍵盤(pán)瑕疵、鍵盤(pán)平面度、筆記本內(nèi)部瑕疵等電子產(chǎn)品檢測(cè)。

　　液晶面板缺陷檢測(cè)

　　激光投影機(jī)缺陷檢測(cè)

　　手機(jī)外殼缺陷檢測(cè)

　　手機(jī)玻璃蓋缺陷檢測(cè)

　　尺寸檢測(cè)

　　手機(jī)輔料缺陷檢測(cè)

　　筆記本腳墊缺陷檢測(cè)

　　鍵盤(pán)瑕疵檢測(cè)

　　鍵盤(pán)平面度缺陷檢測(cè)

　　筆記本內(nèi)部缺陷檢測(cè)

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責(zé)任編輯：胡金鵬